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多功能原子力顯微鏡（AFM）是一種高分辨率的成像技術(shù)，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)和材料科學(xué)領(lǐng)域。這種顯微鏡可以對(duì)表面形貌進(jìn)行三維成像，同時(shí)還可以通過多種模式進(jìn)行材料的物理和化學(xué)性質(zhì)研究。多功能原子力顯微鏡的基本結(jié)構(gòu)：1.光學(xué)系統(tǒng)：用于激光的發(fā)射和探測(cè)，通常包含激光、分束器和光電二極管，可以有效地傳遞信號(hào)。2.探針支撐系統(tǒng)：包括......
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多功能掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscope,SPM）是一類利用尖銳探針與樣品表面之間的相互作用進(jìn)行成像和測(cè)量的高分辨率顯微鏡。SPM能夠在原子級(jí)別上觀察物質(zhì)表面，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。多功能掃描探針顯微鏡的工作原理：1.接觸力（ContactForce）：在探針與樣品直......
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多功能原子力顯微鏡是一種具靈活性和功能性的表面分析工具，它能夠在納米尺度上對(duì)材料的表面形貌、力學(xué)性質(zhì)、電學(xué)性質(zhì)、磁性等多種物理化學(xué)性質(zhì)進(jìn)行綜合分析。AFM不僅在科學(xué)研究中發(fā)揮著重要作用，也在材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域找到了廣泛的應(yīng)用。AFM的工作原理基于探針與樣品表面相互作用的力。當(dāng)探針接近樣品表面時(shí)，它們之間......
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多功能掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscopy,SPM）是一種高分辨率的成像技術(shù)，廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、生物和材料科學(xué)等領(lǐng)域。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，SPM通過使用微小的探針與樣品表面相互作用來獲得圖像和其他物理性質(zhì)。這種方法使其能夠在原子和分子尺度上進(jìn)行觀察，極大地?cái)U(kuò)展了科學(xué)研究的視野。多功能掃描......
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